BS EN 60749-9-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.永久性标记

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 15:10:30  浏览:8525   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Permanenceofmarking
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.永久性标记
【标准号】:BSEN60749-9-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-09-24
【实施或试行日期】:2002-09-24
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:元部件;定义;电气工程;气候试验;测试;电子工程;环境测试;半导体;性能;机械试验;作标记;集成电路;半导体器件;电子设备及元件;电学测量;气候
【英文主题词】:
【摘要】:ThepurposeofthispartofIEC60749istotestandverifythatthemarkingsonsemiconductordeviceswillnotbecomeillegiblewhensubjecttosolventsorcleaningsolutionscommonlyusedduringtheremovalofsolderfluxresiduefromtheprintedcircuitboardassemblyprocess.Thistestisapplicableforallpackagetypes.Itissuitableforuseinqualificationand/orprocessmonitortesting.Thetestshouldbeconsiderednon-destructive.Electricalormechanicalrejectsmaybeusedforthepurposeofthistest.Ingeneral,thistestofpermanenceofmarkingisinconformitywithIEC60068-2-45but,duetospecificrequirementsofsemiconductors,theclausesofthisstandardapply.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语